各有关人员:
根据《特种设备无损检测人员资格考核规则》(TSG Z8001-2013,以下简称《考规》)的规定,我协会将于10月20日至10月21日举办射线数字成像检测[RT(DR+CR)]-Ⅱ级人员资格取证考试。现将此次考试的有关事宜通知如下:
一、参加人员(名单见附件1)
(一)已完成考试申请(在我协会《检验检测人员管理报名系统》中查询审核状态为“报名成功”)。
(二)完成《考规》所规定的专业培训学时(2018年全国射线数字成像检测[RT(DR+CR)]-Ⅱ级人员 资格取证专业培训)。
(三)本期不安排补考。
二、考试内容与范围详见《射线数字成像检测人员资格考试大纲》(见附件2)。
按照《考规》规定,本项目需要进行理论闭卷、理论开卷和实际操作考试,即:
科目 | 理论 闭卷 | 理论 开卷 | 实操 | ||
工艺编制 | 扫图3个工件 | 评图10幅 | |||
满分 | 100 | 100 | (按35:30:35之比例核算成100分) | ||
合格 | 70 | 70 | 70 | ||
题型 | 单选 | 单选题 | 工艺卡填写 | 扫图、填表 | 评图、填表 |
三、日程安排:
日期 | 星期 | 考试科目 |
10月20日 | 六 | 实际操作 |
10月21日 | 日 | 理论笔试(闭卷、开卷) |
四、报到时必须提交《特种设备检验检测人员考试与证书申请表》原件1份(在我协会《检验检测人员管理报名系统》中考试报名、审核成功后自动生成,生成之后打印、签字)。
五、对于考试违纪违规者,将按照《中国特种设备检验协会考场纪律》和《中国特种设备检验协会考场违纪行为认定与处理规定》(分别见我协会官网)予以处理。
六、考试地点及乘车路线,详情参见附件3。
欲了解其它考试相关情况者,可按下述方式与我协会秘书处联系:
联系地址:北京市朝阳区北三环东路26号四层
邮编:100029
联系电话:010-84273536、59068821
传真:010-84273562
联 系 人:游霞、董玉鑫
附件:1.已通过资格审查的人员名单(十月班)
内容及知识点 | 各级要求 | |
Ⅱ | Ⅰ | |
第1部分射线数字成像检测概述 | ||
1.1射线检测原理 | ● | ■ |
1.2射线数字成像检测发展历程 | ▲ | — |
1.3射线数字成像检测的定义和分类 | ||
1.3.1射线数字成像检测的定义 | ● | ● |
1.3.2实时成像技术 | ▲ | — |
1.3.3底片数字化技术 | ▲ | — |
1.3.4计算机辅助成像技术 | ● | ■ |
1.3.5数字阵列检测技术 | ● | ■ |
1.3.6计算机层析成像技术 | ▲ | — |
1.3.7康普顿背散射技术 | ▲ | — |
1.4射线数字成像的特点 | ● | ● |
第2部分射线数字成像检测技术基础理论 | ||
2.1成像过程基本理论 | ||
2.1.1成像过程 | ■ | ▲ |
2.1.2成像过程的空域分析 | ▲ | — |
2.1.3成像过程的频域分析 | ▲ | — |
2.1.4线性系统 | ■ | ▲ |
2.2数字图像及图像数字化 | ||
2.2.1数字图像概念 | ■ | ▲ |
2.2.2图像数字化概述 | ■ | — |
2.2.3动态成像与静态成像 | ■ | ■ |
2.2.4模拟成像与数字成像 | ■ | ■ |
符号说明:●-掌握;■-理解;▲-了解;—-不要求。 |
内容及知识点 | 各级要求 | |
Ⅱ | Ⅰ | |
2.2.5图像采样 | ■ | ▲ |
2.2.6图像亮度与灰度 | ● | ■ |
2.2.7图像数字化控制理论 | ▲ | — |
2.3图像质量评价指标 | ||
2.3.1图像灵敏度 | ● | ▲ |
2.3.2图像分辨率 | ● | ▲ |
2.3.3图像信噪比 | ● | ▲ |
2.4影响图像质量的因素分析 | ||
2.4.1对比度影响因素 | ● | ▲ |
2.4.2分辨率影响因素 | ● | ▲ |
2.4.3信噪比影响因素 | ● | ▲ |
2.5数字图像处理技术 | ||
2.5.1直方图 | ● | ▲ |
2.5.2查找表 | ● | ▲ |
2.5.3帧叠加技术 | ● | ▲ |
2.5.4图像滤波 | ■ | ▲ |
2.5.5图像放大与缩小 | ● | ▲ |
2.5.6其它图像处理功能 | ▲ | — |
2.6图像质量对细小缺陷识别与分辨的影响 | ||
2.6.1对比度噪声比概念 | ■ | — |
2.6.2检测图像的对比度灵敏度 | ■ | — |
2.6.3检测图像细节识别能力 | ■ | — |
2.6.4检测图像的细节分辨能力 | ■ | — |
第3部分射线数字成像检测系统及器材 | ||
3.1射线装置 | ||
3.1.1X射线机 | ■ | ▲ |
3.1.2γ射线源 | ■ | ▲ |
内容及知识点 | 各级要求 | |
Ⅱ | Ⅰ | |
3.1.3加速器 | ▲ | — |
3.1.4其他射线装置 | ▲ | — |
3.2成像器件 | ||
3.2.1荧光成像板(IP板) | ■ | ▲ |
3.2.2线阵列数字探测器(LDA) | ■ | ▲ |
3.2.3面阵列数字探测器(DDA) | ■ | ▲ |
3.3阵列探测器校正技术 | ||
3.3.1坏像素的识别与校正 | ● | ■ |
3.3.2暗场(偏置)校正 | ● | ■ |
3.3.3不一致性(增益)校正 | ● | ■ |
3.4机械装置 | ▲ | ▲ |
3.5显示器 | ||
3.5.1亮度 | ■ | ▲ |
3.5.2灰阶 | ■ | ▲ |
3.5.3显示分辨率 | ■ | ▲ |
3.5.4刷新频率 | ▲ | ▲ |
3.5.5显示器的测试 | ■ | ▲ |
3.6系统软件 | ||
3.6.1系统控制与图像采集软件 | ● | ● |
3.6.2图像处理分析软件 | ● | ▲ |
3.7像质计 | ||
3.7.1概述 | ▲ | ▲ |
3.7.2线型像质计 | ● | ● |
3.7.3孔型像质计 | ■ | ▲ |
3.7.4双线型像质计 | ● | ● |
3.8CR测试板 | ▲ | — |
第4部分射线数字成像透照工艺 |
内容及知识点 | 各级要求 | |
Ⅱ | Ⅰ | |
4.1透照方式的选择与一次透照长度的计算 | ||
4.1.1射线数字成像透照方式的选择 | ● | ■ |
4.1.2一次透照长度的计算 | ● | ▲ |
4.2数字阵列探测器工艺条件的选择 | ||
4.2.1探测器的选择 | ● | ■ |
4.2.2射线源和射线能量的选择 | ● | ● |
4.2.3焦距的选择 | ● | ● |
4.2.4放大倍数的选择 | ● | ■ |
4.2.5曝光量的选择 | ● | ● |
4.3计算机辅助成像技术工艺条件的选择 | ||
4.3.1荧光成像板的选择 | ● | ▲ |
4.3.2扫描仪的选择 | ● | ▲ |
4.3.3射线源和射线能量的选择 | ● | ● |
4.3.4焦距的选择 | ● | ● |
4.3.5金属屏的选择 | ● | ■ |
4.3.6曝光量的选择 | ● | ● |
4.3.7扫描参数的选择 | ● | ■ |
4.4曝光曲线的制作与应用 | ||
4.4.1曝光曲线的构成和使用条件 | ● | ■ |
4.4.2曝光曲线的制作 | ● | ■ |
4.4.3曝光曲线的使用 | ● | ■ |
4.5机械传动装置参数的确定 | ▲ | ▲ |
4.6散射线防护 | ||
4.6.1散射线的来源和分类 | ■ | ■ |
4.6.2散射比的影响因素 | ■ | ▲ |
4.6.3散射线的防护措施 | ● | ■ |
4.7图像的采集及存储 |
内容及知识点 | 各级要求 | |
Ⅱ | Ⅰ | |
4.7.1图像采集技术控制 | ▲ | — |
4.7.2图像采集要求 | ■ | ▲ |
4.7.3图像格式的选择与图像存储 | ● | ● |
4.8工艺文件的编制 | ||
4.8.1工艺规程 | ■ | — |
4.8.2操作指导书 | ● | ▲ |
4.9焊接接头数字阵列检测常规工艺 | ||
4.9.1数字阵列检测工艺的分类和内容 | ● | ▲ |
4.9.2操作指导书典型案例 | ● | ▲ |
4.9.3数字阵列检测的基本操作 | ● | ● |
4.10焊接接头计算机辅助成像常规工艺 | ||
4.10.1计算机辅助成像工艺的分类和内容 | ● | ▲ |
4.10.2操作指导书典型案例 | ● | ▲ |
4.10.3计算机辅助成像的基本操作 | ● | ● |
4.11射线数字成像透照的应用案例 | ||
4.11.1小径管的透照技术与工艺 | ● | ▲ |
4.11.2管子-管板角焊缝的透照技术要点 | ■ | — |
4.11.3不等厚工件检测的技术要点 | ● | — |
4.11.4在役工件腐蚀检测的技术要点 | ■ | — |
第5部分图像质量分析与评定 | ||
5.1灵敏度的测试与评定 | ● | ▲ |
5.2分辨率测试与评定 | ||
5.2.1系统分辨率测试 | ● | ▲ |
5.2.2图像分辨率的测试 | ● | ▲ |
5.2.3分辨率的评定 | ● | ▲ |
5.3信噪比的测试与评定 | ||
5.3.1图像信噪比的测试 | ● | ▲ |
内容及知识点 | 各级要求 | |
Ⅱ | Ⅰ | |
5.3.2归一化信噪比的测试与评定 | ● | — |
5.3.3计算机辅助成像最小灰度值测试 | ■ | — |
5.4补偿原则 | ||
5.4.1补偿原则Ⅰ(信噪比补偿对比度) | ● | ▲ |
5.4.2补偿原则Ⅱ(信噪比补偿分辨率) | ● | ▲ |
5.4.3补偿原则Ⅲ(信噪比补偿坏像素) | ● | ▲ |
第6部分影像尺寸测量与评定 | ||
6.1尺寸标定 | ● | ▲ |
6.2缺陷测量 | ||
6.2.1长度测量 | ● | ▲ |
6.2.2面积测量 | ● | — |
6.3厚度标定与测量 | ■ | — |
6.4图像评定技术 | ||
6.4.1缺陷人工评定 | ● | ▲ |
6.4.2缺陷自动评定 | ▲ | — |
6.5检测报告与图像存储 | ||
6.5.1检测报告 | ● | — |
6.5.2图像存储 | ● | ● |
第七部分无损检测相关法规和射线数字成像检测相关标准 | ||
7.1无损检测相关法规 | ■ | ▲ |
7.2射线数字成像相关标准 | ■ | ▲ |